【福田昭のセミコン業界最前線】無兆候データ不良の検出や中古ICの寿命推定などの新技術がIRPS 2025に登場

本コラムの前回でお伝えしたように、半導体デバイスの信頼性技術に関する世界最大の国際会議「国際信頼性物...

続きを読む