【福田昭のセミコン業界最前線】物理解析なしにDRAMの不良モードと要因を推定するツールなどがIRPS 2024に登場 本コラムの前回でお伝えしたように、半導体デバイスの信頼性技術に関する世界最大の国際会議「国際信頼性物... 続きを読む