【福田昭のセミコン業界最前線】物理解析なしにDRAMの不良モードと要因を推定するツールなどがIRPS 2024に登場

本コラムの前回でお伝えしたように、半導体デバイスの信頼性技術に関する世界最大の国際会議「国際信頼性物...


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