NTTなど、中性子が起こす半導体の「ソフトエラー発生率」の実測に成功 NTT、名古屋大学(名大)、北海道大学(北大)の3者は11月25日、中性子の持つエネルギーごとの「半… Facebook で共有するにはクリックしてください (新しいウィンドウで開きます)クリックして Twitter で共有 (新しいウィンドウで開きます)クリックして Pocket でシェア (新しいウィンドウで開きます)続きクリックして印刷 (新しいウィンドウで開きます)クリックして Tumblr で共有 (新しいウィンドウで開きます)クリックして Pinterest で共有 (新しいウィンドウで開きます)クリックして Reddit で共有 (新しいウィンドウで開きます)クリックして Telegram で共有 (新しいウィンドウで開きます)クリックして WhatsApp で共有 (新しいウィンドウで開きます)クリックして Skype で共有 (新しいウィンドウで開きます) 関連